Предпочтительная система отслеживания качества покрытий для индийских производителей аккумуляторов и пленок.

Для индийских производителей аккумуляторов и пленок система отслеживания качества покрытий CTS 3.0 от Arise представляет собой передовое решение в отрасли.

Интегрируя технологию микроволнового радара и машинное зрение, система использует микроволновой радар для проникновения сквозь основные материалы и обнаружения отклонений в весе покрытия с точностью до 0.1 г/м². Система машинного зрения выявляет дефекты поверхности, такие как тонкое покрытие, скопление клея и зазоры в покрытии, устраняя «слепые зоны» контроля качества, присущие традиционным системам с одним датчиком.

Многие индийские производители аккумуляторов и фотопленки сталкиваются с подобными производственными проблемами:

Показатели плотности покрытия соответствуют техническим характеристикам, однако продукция возвращается из-за дефектов внешнего вида.

Поверхность выглядит неповрежденной, но прочность на отслаивание не соответствует требованиям.

В чем же кроется основная причина? Традиционные контрольно-измерительные приборы используют только односенсорное решение: они либо измеряют толщину с помощью рентгеновской/ближнеинфракрасной технологии, либо полагаются на традиционное машинное зрение для контроля поверхности, оставляя существенные «слепые зоны» в системе контроля качества.

Система двойного контроля Arise CTS 3.0: микроволновый радар + машинное зрение

Модуль микроволнового радара

Благодаря использованию бесконтактного онлайн-измерения, прибор проникает в ПЭТ-подложки и слои чернил, напрямую получая данные о весе покрытия. Он не подвержен влиянию помех, вызванных цветом поверхности изделия и печатными рисунками, и способен обнаруживать отклонения в количестве клеевого покрытия до 0.1 г/м².

Модуль машинного зрения

Он синхронно сканирует поверхность изделия для точного выявления дефектов поверхности, включая тонкое покрытие, скопление клея, разрушение покрытия и отсутствие покрытия.

Синергия и взаимодополняемость двух технологий

Радар оповещает об аномалиях → Система машинного зрения выполняет синхронную проверку; система машинного зрения обнаруживает проблемы на поверхности → Радар отслеживает первопричины.

Система CTS 3.0 — это не простое объединение двух технологий, а интегрированное решение для контроля качества с глубоким слиянием слоев. Оборудование совместимо с машинами для сухого ламинирования, машинами для ламинирования без растворителей и флексографическими ламинаторами. Оно применяется для оперативного контроля качества на производственных линиях в индустрии производства пленок, клейких лент и полиграфической упаковки.

Это именно та система отслеживания качества покрытия , которую искали индийские производители аккумуляторов и пленок.

Часто задаваемые вопросы (FAQ)

В: В чем разница между CTS 3.0 и традиционными системами контроля качества покрытий?

A: В традиционных системах используется решение с одним датчиком (ближний инфракрасный или рентгеновский). Система CTS 3.0 имеет режим двойного контроля, сочетающий микроволновый радар и машинное зрение, что позволяет исключить «слепые зоны» в контроле качества.

В: Может ли CTS 3.0 измерять вес покрытия на изделиях с нанесенными рисунками?

А: Да. Микроволновый радар преодолевает помехи от чернил и базовых материалов, обеспечивая высокоточное бесконтактное измерение, не зависящее от цвета поверхности или печатных узоров.

В: Какова точность обнаружения микроволнового радара?

А: Система способна обнаруживать отклонения веса покрытия на уровне всего 0.1 г/м².